國(guó)外儀器儀表發(fā)展的發(fā)展趨勢(shì)
國(guó)外之前的儀器儀表發(fā)展概況 50年代初期,儀器儀表取得了重大突破,數(shù)字技術(shù)的出現(xiàn)使各種數(shù)字儀器得以問(wèn)世,把模擬儀器的精度、分辨力與測(cè)量速度提高了幾個(gè)量級(jí),為實(shí)現(xiàn)測(cè)試自動(dòng)化打下了良好的基礎(chǔ)。
60年代中期,測(cè)量技術(shù)又一次取得了進(jìn)展,計(jì)算機(jī)的引入,使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化,從個(gè)別電量的測(cè)量轉(zhuǎn)變成測(cè)量整個(gè)系統(tǒng)的特征參數(shù),從單純的接收、顯示轉(zhuǎn)變?yōu)榭刂啤⒎治?、處理、?jì)算與顯示輸出,從用單個(gè)儀器進(jìn)行測(cè)量轉(zhuǎn)變成用測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量。
70年代,計(jì)算機(jī)技術(shù)在儀器儀表中的進(jìn)一步滲透,使電子儀器在傳統(tǒng)的時(shí)域與頻域之外,又出現(xiàn)了數(shù)據(jù)域(Datadomain)測(cè)試。
80年代,由于微處理器被用到儀器中,儀器前面板開(kāi)始朝鍵盤(pán)化方向發(fā)展,過(guò)去直觀的用于調(diào)節(jié)時(shí)基或幅度的旋轉(zhuǎn)度盤(pán),選擇電壓電流等量程或功能的滑動(dòng)開(kāi)關(guān),通、斷開(kāi)關(guān)鍵已經(jīng)消失。測(cè)量系統(tǒng)的主要模式,是采用機(jī)柜形式,全部通過(guò)IEEE-488總線送到一個(gè)控制器上。測(cè)試時(shí),可用豐富的BASIC語(yǔ)言程序來(lái)高速測(cè)試。不同于傳統(tǒng)獨(dú)立儀器模式的個(gè)人儀器(Personalinstrument)已經(jīng)得到了發(fā)展。
90年代,儀器儀表與測(cè)量科學(xué)進(jìn)一步取得重大的突破性進(jìn)展。這個(gè)進(jìn)展的主要標(biāo)志是儀器儀表智能化程度的提高。
國(guó)外儀器儀表發(fā)展的發(fā)展趨勢(shì)
工業(yè)自動(dòng)化控制儀表主要包括變送器、調(diào)節(jié)器、調(diào)節(jié)閥等設(shè)備,,控制儀表從基地式調(diào)節(jié)器(變送、指示、調(diào)節(jié)一體化的儀表)開(kāi)始,經(jīng)歷了氣動(dòng)、電動(dòng)單元組合儀表到計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)(DDC),直至今日的分散控制系統(tǒng)DCS。DCS已經(jīng)走過(guò)了20多年的里程,DCS以其高度的可靠性、強(qiáng)大而易于擴(kuò)充的功能、漂亮的圖形界面、方便的組態(tài)軟件、豐富的控制算法、開(kāi)放的聯(lián)網(wǎng)能力等優(yōu)點(diǎn),得到迅速的發(fā)展,成為計(jì)算機(jī)工業(yè)控制系統(tǒng)的主流。PLC以其結(jié)構(gòu)緊湊、功能簡(jiǎn)單、速度快、可靠性高、價(jià)格低等優(yōu)點(diǎn),迅速獲得廣泛應(yīng)用,已成為與DCS并駕齊驅(qū)的另一種主流工業(yè)控制系統(tǒng)。目前以PLC為基礎(chǔ)的DCS發(fā)展很快,PLC與DCS相互滲透、相互融合、相互競(jìng)爭(zhēng),已成為當(dāng)前工業(yè)控制系統(tǒng)的發(fā)展趨勢(shì)。